4200-SCS 半导体特性分析系统

4200-SCS半导体特性分析系统采用了模块化、可配置、可升级的架构。这使得它能够准确满足当前的测量需求，也可以模块扩展以满足后续的需求。 

支持多达9个精密直流源测量单元，能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压； 

利用4210-CVU?-V）模块可以方便的在1KHz-10MHz测试频率下进行交流阻抗测试，可以测量的电容范围从aF级到uF级； 
利用可选的4225-PMU超快I-V模块可以进行脉冲和瞬态测量。 

吉时利交互式测试环境（KITE）提供了一套完整的图形用户界面，无需编程即可支持几乎所有类型的特性分析测试。它提供了多达456种标准的特性分析测试库，包括MOSFET、BJT晶体管、二极管、电阻器、电容器、太阳能电池、碳纳米管和NVM存储器，例如Flash、PRAM、PCRAM等。 

配备可满足各类测试要求的高性价比探针台系统。