MP5000系列

受人工智能的快速发展和电气化转型的推动，半导体芯片市场的增长要求制造商在不牺牲测试精度的情况下，提高测试和验证的吞吐量。实现这一目标的一种方法是并行测试，即同时

泰克科技（Tektronix）发布两项突破性成果——全新7系列DPO示波器与MP5000系列模块化精密测试系统，它们将重新定义测试与测量领域的各种可能性。初看之