斯坦福

材料电阻率是表征物质导电性能的重要物理参数，在半导体、超导体及新型功能材料研究中具有关键意义。为实现高精度、低噪声的电阻率测量，常采用锁相放大技术提取微弱信号。斯坦福研究所（Stanford Research Systems）生产的SR860锁相放大器以其高灵敏度、宽动态范围和优异的噪声抑制能力，成为科研领域广泛使用的测量工具。本文将介绍如何结合SR860锁相放大器，测量材料的电阻率。