耐冲击精密电容测试仪

以半导体芯片制造为例，电容测试要求严苛，微小参数偏差或致芯片性能下降甚至失效。但测试中电容放电致仪器损坏频发，影响进度、增加成本。数据显示，全球每年因此损失数亿美元且随行业发展攀升。 TH2640系列耐冲击精密电容测试仪采用多级复合防护架构，可在200V电容突发短路时保持0.05%测试精度，有效解决高能量电容放电导致的仪器损毁问题。