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同惠TH2851-130阻抗分析仪在压电晶体器件谐振测试方案

发布日期:2023-01-05     作者: 安泰测试     浏览数:   

  有一种非常有趣的晶体,当你挤压或拉伸它时,它的两端会产生不同的电荷。这种效应被称为压电效应。能产生压电效应的晶体被称为压电晶体。压电晶体用于制造选择和控制频率的电子元件,广泛应用于彩电、空调、计算机、DVD,特别是在高性能电子设备和数字设备中,无线通信的应用日益扩大。

  具体方案

  测试对象:压电晶体传感器部件

  测试要求:测试DUT并绘制谐振曲线,阻抗曲线。

  TH2851-130的标准配置可以满足客户晶体的谐振测试需求,阻抗曲线可以通过曲线扫描功能来满足。对于进口品牌的类似阻抗测试仪,远高于TH2851也面临禁运,所以同惠TH阻抗分析仪已成为客户的**选择。

同惠TH2851-130阻抗分析仪在压电晶体器件谐振测试方案(图1)

同惠TH2851-130阻抗分析仪在压电晶体器件谐振测试方案(图2)

  以上内容由安泰测试Agitek安泰测试作为国内专业的测试仪器综合服务平台,为客户提供丰富的测试产品选择、完整的系统测试解决方案、全面的技术支持和售后服务,帮助客户更好地解决测试问题,https://www.agitek.cn/cp/862.html



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