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同惠TH2851在薄膜介电常数测试方案

发布日期:2024-04-29     作者: 安泰测试     浏览数:   

  在材料的介电常数测试中低频测试,网络分析仪的测试方法很难达到更低的频率,一般网络分析仪测试介电常数的方式最低只能测到100MHz,如果我们想知道低频的介电常数就没有办法,而且网络分析仪测试时成本非常高,夹具尤其贵。

  今天给大家介绍另一种仪器测试介电常数的仪器,就是阻抗分析仪,阻抗分析仪最低频可以测到20Hz甚至更低,本套方案需要使用同惠阻抗分析仪TH2851以及TH26077夹具进行测试。

  阻抗分析仪测试介电常数方法为平行板测试法

同惠TH2851在薄膜介电常数测试方案(图1)

  使用此方法可以直接在夹具上读出材料厚度,此夹具可以测试的参数有电容(C)、耗损因数(D)、介电常数(εr',εr'')

  测试原理如下:

同惠TH2851在薄膜介电常数测试方案(图2)

  介电常数公式

同惠TH2851在薄膜介电常数测试方案(图3)

  介电常数分析软件

  该软件为选件,开通后在TH2851界面直接选择对应的参数即可,分别可以单测、列表扫描、曲线扫描,下图为曲线扫描界面。

同惠TH2851在薄膜介电常数测试方案(图4)


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