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主机型号性能参数及配套夹具

矢量网络分析仪（VNA）：支持测试频率范围（需覆盖器件应用频段，如 9kHz-26.5GHz）

测试夹具：匹配器件形状（同轴夹具→圆柱 / 线材；微带线夹具→薄片 / PCB 板材），夹具电极无氧化、变形

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校准件准备

准备 SOLT 校准件（Short 短路、Open 开路、Load 负载、Through 直通），校准件型号与分析仪端口匹配（如 SMA / N型接口）

校准件表面清洁，无灰尘、污渍

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被测件预处理

确认器件完整性：无破损、裂纹，测试区域尺寸均匀（如薄片无边缘凸起 / 凹陷）

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连接校准件

将 SOLT 校准件按分析仪提示顺序，逐一连接到测试端口（确保接口拧紧，无松动）

避免校准件连接时受力过大，损坏接口

 每次连接后，确认接口无偏移、接触良好

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启动校准程序

在分析仪界面选择 “校准”→“SOLT 校准”

 选择测试频率范围（与前期确认的器件应用频段一致）

1. 频率范围不可超出分析仪或校准件的额定范围

2. 若需多频段测试，可分频段校准（如 100kHz-1MHz、1MHz-100MHz）

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完成校准与验证

等待分析仪自动完成校准（过程中勿触碰校准件）

2. 校准后，断开校准件，连接 “Through 直通件”，查看 S 参数中的S 21参数（理想值接近 0dB，误差≤±0.5dB 为合格）

1. 若校准失败，检查校准件连接是否正确、表面是否清洁，重新校准

2. 校准数据需保存（命名格式：日期 + 频率范围，如 20251027_9kHz-1GHz）

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装夹器件

将器件固定在测试夹具中：

薄片器件：覆盖夹具整个电极区域，确保器件与电极紧密贴合（无空隙）

2. 圆柱 / 线材：放入同轴夹具中心，避免与夹具内壁接触不良

若为薄片，勿用力按压，防止器件变形

 确认探头方向：夹具 “正面朝上”，避免电流方向反向导致波形异常

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调整分析仪参数

测量模式：选择 “S11（反射参数）”

时基 / 频率设置：按测试需求设定频率点（如单点测试选常用频率，扫频测试选频率间隔）

3. 垂直灵敏度：根据预期阻抗调整，确保波形清晰（无溢出、无过窄）

1. 若需观察电流变化，可搭配电流探头（如前期示波器测试逻辑，需额外连接）

2. 参数调整后，需 “预览” 波形，确保无异常干扰（如杂波过多）

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采集 S 参数与阻抗

启动测试，记录 S11 参数（幅频特性曲线）

2. 通过分析仪 “计算功能”，将 S11 转换为 “输入阻抗 Z”，提取等效电阻 R（忽略电抗 X，或选电抗最小的频率点）

1. 重复采集 3 次数据，取平均值（减少随机误差）

 2.记录时需标注频率（如 1MHz 下 R=2.1Ω）

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测量的 R 值偏大，σ 偏小

接触电阻过大

2. 夹具电极氧化3. 器件表面有油污

1. 清洁器件与夹具表面（酒精棉片擦拭），或涂少量导电膏（非高精度场景）2. 更换无氧化的夹具电极，确保器件与电极紧密贴合

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波形反向（S11 参数异常）

探头 / 夹具方向反了

2. 器件极性接反（若有极性）

1. 将夹具 / 探头旋转 180° 重新装夹2. 确认器件极性，按 “电流从正极流入” 方向调整装夹

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高频测试（>100MHz）结果偏差大

趋肤效应导致实际导电面积减小【电导率测试】

计算趋肤深度 δ=√(1/(πfμσ))（f：频率，μ：磁导率，σ：初步计算的电导率）

2. 修正横截面积 A'=A×(δ/L)（L：器件厚度，若 L>δ，按 A'= 周长 ×δ 计算），重新代入公式

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校准后测试仍有误差

校准件损坏

校准后触碰了测试端口

3. 环境温度变化大（>5℃）

1. 更换合格校准件，重新校准

2. 校准后避免触碰端口，若触碰需重新校准

3. 控制测试环境温度（建议 20-25℃），待仪器稳定后测试