X射线衍射仪(XRD)

设备简介：

Bruker D8 Advance能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析。仪器应包括长寿命X射线光管、高精度测角仪、能量色散探测器以及相关外围设备。配有三种样品台：标准样品台，尤拉环样品台，变温样品台(高、中、低温)。

主要参数：

1、X射线线焦斑大小：0.04×12 mm，点焦斑大小0.4×1.2 mm，可完成点焦斑与线焦斑自动切换;

2、测角仪：测角仪半径> 280 mm，2?转动范围：-110~168°，可读最小步长 0.0001度，角度重现性 0.0001度;

3、二维功能探测器，活性面积：14mm × 16mm;

4、低温原位分析腔体：工作温度范围： -160~450℃，控温精度：+/-0.1℃;

5、环境加热原位分析腔体： 工作温度范围：室温~1100℃，控温精度：+/-0.1℃;

6、直接加热原位分析腔体：工作温度范围：室温~1600℃，控温精度：+/-0.1℃。

测试项目：

XRD能够精确对金属、非金属多晶粉末以及薄膜等样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等。

样品要求：

本仪器适合金属、非金属粉末、片状和块体样品，粉末粒径约40μm(过筛300-320目)、质量大于1g为宜。块体材料的直径小于2cm、厚度小于1cm。

测试时间：

常规测试周期在1~2周，其他测试2~4周

测试结果类型：

raw、brml和txt三种格式，其中brml格式只适用于布鲁克指定的软件