SU8230冷场发射扫描电镜

设备简介：

日立SU8200系列冷场扫描电镜采用新设计的冷场发射电子枪，其不仅完全秉承以往冷场发射扫描电镜全部优点，还大幅提高了探针电流，并大大增强了电流的稳定性。这些优点使得在低加速电压下，可长时间连续实现高分辨观察和分析功能。

主要参数：

放大倍数：100×~1000000×(高倍模式)，20×~2000×(低倍模式);

电子枪：冷场发射;真空系统：10^-9(离子泵)

分辨率：0.7nm@1kV，0.6nm@15kV，加速电压：0.5~30kV，着陆电压0.01~2kV

能谱分辨率：127ev

测试项目：

观察和检测非均相有机、无机材料，及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析

样品要求：

(1)本仪器不接收磁性、易潮、液体、有机、生物、不耐热、熔融蒸发、松动粉末或碎屑等有挥发物样品，每个样品的质量不得超过100g，高度不超过2 cm。

(2)对于隐瞒样品信息而造成设备故障或损坏的，中心要求用户或用户课题组承担相应的维修费和误工费。

测试时间：

1~2周

测试结果类型：

tif、word或PDF格式