泰克光隔离测量系统在 CMTI 测试中的应用

CMTI 概述及测试背景 CMTI：Common mode transient immunity（共模瞬变抗扰度） 是指对施加在隔离电路间的高速瞬变共模电压的上升 / 下降容 许速率 dVcm/dt，通常以 kV/µs 或 V/ns 表示。如下图示：

CMTI 指出了隔离电路对高速瞬变信号穿过隔离层而破坏输出状 态的抑制能力，也体现隔离电路对快速瞬态信号干扰的敏感性。 更高的 CMTI 指标意味着隔离电路 / 器件在以其限定的测试条 件下（例如 IN = VCCI or GNDI, Vcm = 1200 V）可以在更高的 上升或下降速率共模电压冲击隔离屏障时能保证输出（OUT） 没有发生错误。

 CMTI 测试需求及应用

随着新一代宽禁带半导体器件（如 SiC 和 GaN）的普及，与传 统的 MOSFET 和 IGBT 相比，设备和应用需要更高的开关频率， 在导通 / 关断瞬变期间会出现更高瞬变电压的边沿速率。高性 能隔离器的 CMTI 额定值很容易达到 100V/ns，许多 CMTI 测试 的结果都超过 200V/ns。使用低 CMTI 隔离器在高 dVcm/dt 环 境中预期会出现信号完整性问题，这在特定的环境比如电机驱 动或太阳能逆变器等应用场景中，任何的脉冲抖动、失真、运 行不稳定或脉冲信息丢失都会对数据完整性产生重大影响，可 能导致危险的短路事件。CMTI 的测试在这类隔离电路中尤其是 在具备隔离功能的芯片指标测试中变得非常重要。

测试原理及方法 CMTI 的测试基于 IEC 60747-17:2020 标准。分为静态测试和动 态测试。

静态 CMTI 测试 静态是指把输入引脚连逻辑高电平或者低电平，然后模拟施 加共模瞬变 CMT，理论上在 CMTI 规格以内的冲击都无法改 变输出状态。

动态 CMTI 测试

和静态 CMTI 的要求一样，在动态共模瞬变 CMT 的 冲 击 下， 输 出 也 应 当 保 持 正 常， 如 果 CMTI 的能力不够强，会出现类似 missing pulse, excessive propagation delay, high or low error 或者 output latch 的错误。

鉴于高速瞬变且高共模电压的测试环境，推荐使 用高带宽且全频段 CMRR 优异的示波器测试系统 对隔离器件的 CMTI 能力及隔离电路信号稳定性 做测量，测试连接如下：

CMTI 推荐测试方案