泰克AFG31000系列信号发生器
在5G、自动驾驶、半导体等前沿领域,信号测试的精度与效率已成为技术突破的关键瓶颈。泰克AFG31000系列信号发生器以三大核心技术革新,重新定义了信号生成与测试的标准,成为工程师应对复杂测试场景的“全能武器”。
核心技术:直击测试痛点
InstaView™实时波形监测是该系列的标志性创新。传统设备因阻抗不匹配易导致波形失真,而AFG31000通过内置算法直接在9英寸触摸屏上显示被测器件(DUT)端的实时波形,无需外接示波器。例如,在功率器件测试中,工程师可清晰观察MOSFET栅极驱动信号的过冲与平台电压,将调试时间从数小时缩短至分钟级。
双脉冲测试模式专为SiC/GaN等宽禁带器件设计。通过一键生成两个独立脉冲序列,配合泰克示波器,可精准测量器件的开关损耗与反向恢复电荷。某新能源汽车团队实测显示,该功能将IGBT模块测试效率提升8倍,加速了电驱系统的研发迭代。
可变采样率技术则解决了复杂信号生成的精度难题。在高级序列模式下,设备支持1μSa/s至2GSa/s动态采样,确保每个采样点精确输出。以16QAM调制测试为例,该技术将误差向量幅度(EVM)优化至1.2%以下,满足5G基站射频一致性测试的严苛要求。
性能参数:全场景覆盖
频率与幅度:单通道提供25MHz-250MHz频段,双通道支持同步输出;1mVP-P至10VP-P输出范围,搭配±0.1dB幅度平坦度,确保射频信号链路的精确校准。
波形生成:内置12种标准波形,支持16Mpts/通道任意波形生成(选配升级至128Mpts),可复现生物电信号、电机冲击波形等复杂场景。
调制与序列:全面支持AM/FM/PM模拟调制及ASK/FSK/PSK数字调制,256步高级序列模式可编程生成多谐波驱动信号,加速控制器算法优化。
智能体验:操作革命
9英寸容性触摸屏支持多点触控与手势操作,参数设置如智能手机般流畅;内置ArbBuilder编辑器可直接生成chirp信号或导入CSV噪声数据,实现“所见即所得”的波形复现;多台同步向导功能通过触摸屏引导完成相位校准,将三相逆变器测试的setup时间从3小时压缩至40分钟。
用户价值:降本增效
AFG31000系列以1/10的价格实现传统AWG设备的类似性能,单台可替代多台函数发生器。其InstaView™技术减少示波器依赖,双脉冲测试模式缩短功率器件周期,整体测试效率提升3-5倍。软件升级路径更延长了设备生命周期,成为实验室与生产线的“长期投资”。
在信号复杂度持续攀升的今天,泰克AFG31000系列以技术创新重新定义了测试效率的边界,为通信、半导体、汽车电子等领域的技术突破提供了关键支撑。
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