TH2839精密阻抗分析仪测量半导体材料介电常数的方法

TH2839精密阻抗分析仪基于自动平衡电桥原理，精度达0.05%，频率范围20Hz至10MHz，搭配专用夹具与上位机软件，可精准测量半导体材料介电常数（εᵣ）及介质损耗角正切（tanδ）。其核心是通过测量样品等效电容及损耗参数，结合几何尺寸推导介电常数，具体流程如下。

一、测量前准备

设备需搭配TH26077电介质测试夹具、四端对测试线、同惠上位机软件及TH26010校准短路片，需偏置测试可外接TH1778系列偏置电流源。样品优先制成10mm×10mm平板状，双面抛光且平面度误差≤1μm，用高精度测厚仪取3点平均值作为厚度d，误差控制在±0.01mm内，经氩离子清洗去氧化层后，真空静置至室温。测量需在23℃±2℃、相对湿度≤60%环境下进行，减少参数漂移。

二、仪器校准流程

校准旨在消除夹具寄生电容与引线阻抗干扰。开机自检正常后，连接TH26077夹具并确保接触良好。先执行开路校准，记录夹具空载寄生参数；再用TH26010短路片连接电极，完成短路校准，仪器自动补偿误差，校准后保存数据备用。

三、测量参数设置与操作

通过触摸屏设定参数：主参数选并联电容（Cp），副参数选损耗因子（D，即tanδ）；测试频率建议100kHz-1MHz，避开干扰频段；AC信号电平设50mVrms-1Vrms，防止高电压激发载流子影响结果；无偏置需求设电压、电流为0，需模拟工况可调节对应偏置值。

将预处理样品平稳放入夹具电极间，确保贴合无气泡，轻压固定且屏蔽层接地。按下“开始”键，可选单次测量或频率扫描模式，仪器实时采集Cp与D数据。

四、数据处理与计算

测量完成后，数据可通过仪器存储或USB、LAN接口导出至PC。建议对同一样品重复测量3次取平均值，降低随机误差。基于平行板电容器原理，介电常数计算公式为：εᵣ = (Cp × d) / (ε₀ × A)，其中ε₀为真空介电常数（8.854×10⁻¹² F/m），A为夹具电极固定有效面积。tanδ直接读取D值，复介电常数虚部ε''=ε'×tanδ，上位机软件可自动计算并通过等效电路模型拟合优化精度。

五、注意事项

半导体介电常数具频率依赖性，需记录测量频率，必要时进行多频率扫描。定期用无水乙醇清洁夹具电极，测量前后擦拭，校准后避免触碰测试端。测量结果需与文献值对比，偏差过大时检查样品制备、校准流程及参数设置。每月用短路片验证校准精度，长期闲置后开机预热30分钟，保障仪器稳定性。

综上，TH2839通过“校准-测量-拟合”标准化流程，可实现半导体材料介电常数高精度测量，适用于研发及性能评估场景。